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測(cè)試日期：2008-4-8

芯片名稱：TP4056

測(cè)試板：本公司TP4056演示板

測(cè)試環(huán)境：溫度20℃

測(cè)試目的：檢測(cè)芯片在涓流轉(zhuǎn)恒流及極限熱耗散情況下（高溫工作）的可靠性

測(cè)試條件：

電源電壓：7.0V

充電設(shè)置電流：1.2A

          充電電池起始充電電壓：2.5V  

測(cè)試結(jié)果說明：TP4056經(jīng)過涓流，恒流，恒壓三個(gè)充電階段， 芯片在2.9V左右進(jìn)入恒流狀態(tài)。

　　　　　　　恒流設(shè)置為1.2A，由于電源電壓設(shè)置7V，芯片受熱影響自適應(yīng)而減小充電電流。（減小電源電壓至5V左右則可得到大充電電流）

　　　　　　　可計(jì)算芯片上實(shí)際功率為芯片通過的電流×芯片電源端與電池端的壓差約為3V即300mA×3V=0.9W 。約為此封裝的熱耗散功率。

 測(cè)試項(xiàng)目：設(shè)置1A完整充電情況

測(cè)試條件：電源電壓5V.　電池容量2400mA　　

 測(cè)試結(jié)果說明：完整的充電電流控制。涓流、恒流、恒壓各段充電電流正常?？梢暂敵龀^1A的大電流。

測(cè)試項(xiàng)目：1.2A恒流2小時(shí)測(cè)試

測(cè)試條件：電源電壓5V。

測(cè)試結(jié)果：

 如客戶在測(cè)試中芯片充電電流過小，請(qǐng)注意以下幾點(diǎn)：

一， 大電流測(cè)試中電池電壓不應(yīng)超過4.05V,當(dāng)電池電壓高于4.05V左右后，電流將逐漸減小，進(jìn)入恒壓充電階段。

二， 在測(cè)試中，若需要監(jiān)測(cè)充電電流，請(qǐng)將電流表串聯(lián)在電源端。不可串聯(lián)在電池端。電流表內(nèi)阻對(duì)測(cè)試有干擾。

三， 我司測(cè)試中電源電壓為5.028V，即電路板紅線連接至電源的電壓。若電源電壓為5.2V以上，則由于芯片功率耗散的影響而減小充電電流。

請(qǐng)注意監(jiān)測(cè)電源的實(shí)際電壓。

測(cè)試結(jié)論：涓流恒流轉(zhuǎn)換功能正常，芯片在極限熱耗散的高溫情況下工作正常。芯片熱限制自適應(yīng)減小電流功能正常。大電流持續(xù)工作可靠性良好。

　　　　　在充電過程中，設(shè)置大電流充電。電源在5V-8V范圍開關(guān)上電可靠性良好。

　　　　　如客戶發(fā)現(xiàn)芯片在某種狀態(tài)下出現(xiàn)不穩(wěn)定，壞片等情況請(qǐng)告知我司。