鍍層膜厚儀是一種專業(yè)測量儀器，它的主要作用是用來測量各種材料表面的膜厚，包括但不限于金屬、非金屬、有機(jī)物等。這種工具對于一些需要嚴(yán)格控制膜層厚度的制造工藝很重要，例如電子、半導(dǎo)體、航空航天等行業(yè)，因為它能夠確保生產(chǎn)過程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。
X射線鍍層膜厚儀可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析，運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低?？舍槍蛻魝€性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
鍍層膜厚儀的具體功能包括：測量材料表面的厚度、檢測其中的缺陷、分析膜層的成分和結(jié)構(gòu)等。這些功能對于生產(chǎn)制造而言都很關(guān)鍵。通常來說，這種儀器采用光學(xué)、電磁、電子等不同的測量原理，每種原理都有各自的優(yōu)缺點和適用范圍。因此，使用時也要根據(jù)具體的材料、厚度和需要掌握的信息來選擇合適的測量原理和儀器。
鍍層膜厚儀利用了光的波動性質(zhì)以及薄膜的光學(xué)特性，在材料表面上形成干涉效應(yīng)。
通過測量干涉光強(qiáng)的變化，可以推導(dǎo)出薄膜的厚度信息。鍍層膜厚儀主要由光源、分束器、反射鏡、檢測器等組件組成。當(dāng)光源照射到材料表面上時，一部分光線被反射，一部分光線穿透材料并與反射光線發(fā)生干涉。
根據(jù)光的干涉現(xiàn)象，當(dāng)兩束光線相遇時，如果它們的光程差為整數(shù)倍的波長，干涉疊加會增強(qiáng)光強(qiáng)；
如果光程差為半波長的奇數(shù)倍，干涉疊加會導(dǎo)致光強(qiáng)削弱。
通過調(diào)節(jié)鍍層膜厚儀中的光程差，可以實現(xiàn)對干涉光強(qiáng)的控制和觀測。
網(wǎng)站客服
